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數顯薄膜測厚儀

更新時間:2010-07-22      瀏覽次數:1823

 

功能用途:主要用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特數顯薄膜點。
技術指標:
1.測量范圍:(0-25mm
2.分辨率:0.001mm 
3.電源:氧化銀電池SR44 
4.工作溫度:0+40 
5.儲運溫度:-20+70
6.相對濕度:≤80%
蘭博(濟南)試驗儀器有限公司
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